LET-2000D系列是力鈦科公司開發出的滿足IEC60747-8/9標準的半導體動態參數分析系統。旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數評估、驅動設計、PCB設計等需要半導體動態參數的場景所遇到的困難。特別對于第三代半導體的測試，LET-2000D有著較高的系統帶寬和測試精度，可以有效準確的測量出實際的器件參數

系統參數：
●  測量電壓：標配2000V覆蓋650V,1200V,1700V器件的測試。 可升 級到10000V。
●  測量電流：標配200A，覆蓋單管、及部分模塊的測量。 可升級到6000A。
●  短路電流：2000A
●  測量參數：Vce/Vds,Ic/Id,Vgs/Vge,toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on), tr(Ic), Eon, dI/dt, dv/dt, Err, Qrr, trr, Irr 等。
●  測量項目： 開關參數、短路參數、反向恢復參數、安全工作區等
●  測量器件：單管/模塊，MOSFET、IGBT、FWD、GTR…
●  系統帶寬：350MHz、500MHz、1GHz
●  測量通道：4CH
●  雙脈沖脈寬：最小20ns，最大150us。
●  雙脈沖數：單脈沖、2-30脈沖
●  測量依據標準：IEC60747-8 and IEC60747-9、 JEDEC JEP173